格森塑膠整理ESD表面電阻、Static Shielding、尺寸、厚度、封口強度、Particle微粒、離子污染、防潮阻隔、外觀與COA檢驗報告10大驗收重點,適用IC、PCB、MBB、金屬屏蔽袋與PE無塵袋
若想先了解基本原理,可延伸閱讀:
👉 金屬抗靜電袋的靜電屏蔽能力怎麼驗證?從表面電阻、10⁶/10⁹/10¹¹ Ω到Static Shielding一次了解
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半導體包材IQC怎麼驗收?
快速答案
半導體包材IQC不能只量尺寸與厚度,IC、PCB、PCBA、IC Tray及精密電子零件使用的包裝袋,還應依用途確認ESD表面電阻、Static Shielding、封口強度、袋體完整性、Particle、離子污染、防潮阻隔、材料結構與Lot檢驗報告,不同包材並不需要全部驗相同項目,真正的IQC應依產品風險、客戶Spec及使用環境建立分級驗收標準
5個核心結論
- 半導體包材IQC不能只有尺寸、厚度與外觀
- Surface Resistance合格,不代表Static Shielding合格
- Cleanroom Class不能直接代表袋子Particle合格
- 封口強度與漏氣/氣密性是不同測試
- COA必須能對應實際交貨Lot,不能只看「有沒有報告」
適用對象/適用情境
適合建立IQC規格的半導體包材包括:
- LDPE抗靜電袋
- Static Shielding金屬屏蔽袋
- MBB防潮袋
- 抗靜電鋁箔袋
- PE無塵袋
- 抗靜電無塵袋
- IC Tray包裝袋
- Tape & Reel外袋
- 高阻隔真空袋
- 半導體設備潔淨包裝
不同產品最怕的風險不同,因此IQC也應不同
例如:
金屬屏蔽袋重視ESD Shielding;
MBB重視WVTR與Seal;
PE無塵袋則更重視Particle與污染控制
技術原理:半導體包材IQC真正是在驗什麼?
IQC是:
Incoming Quality Control,進料品質管制
真正目的不是確認:
「這個袋子看起來正常」
而是確認:
這一批包材是否仍具有採購時要求的功能
常見風險包括:
- Electrostatic Discharge,ESD靜電放電
- Moisture濕氣
- Particle微粒
- Ionic Contamination離子污染
- Pin Hole針孔
- Delamination分層
- 封口失效
- 尺寸偏差
- 厚薄不均
- 材料或批次錯誤
半導體包材IQC 10大驗收項目
| 項目 | 主要確認內容 |
|---|---|
| 1. ESD表面電阻 | 表面電阻與表面電阻率 |
| 2. Static Shielding | 放電屏蔽 |
| 3. 尺寸 | 寬、長、折角、封口區 |
| 4. 厚度 | 平均厚度、均勻度 |
| 5. 封口 | 熱封強度、熱封寬度 |
| 6. 包裝完整性 | 洩漏、 氣孔、通道 |
| 7. 外觀 | 刮傷、分層、異物、皺摺 |
| 8. Particle/潔淨度 | 微粒、Ion、FTIR等 |
| 9. 阻隔性能 | WVTR、必要時OTR |
| 10. COA/追溯 | Lot、方法、結果、日期 |
1. ESD表面電阻
ANSI/ESD STM11.11-2022是目前平面材料表面電阻的重要測試方法,包含測試設備、樣品準備與Conditioning要求
採購規格不要只寫:抗靜電10⁹
而應寫清楚:
- 表面電阻還是表面電阻率
- 測試方法
- 內表面與外表面
- 溫濕度條件
2. 靜電屏蔽
如果產品名稱是:抗靜電袋
就不能只看表面阻值
ANSI/ESD STM11.31-2018專門用於評估ESD Shielding Bag的放電屏蔽性能;IEC 61340-5-3:2022目前的Discharge Shielding要求為袋內能量低於20 nJ
因此:表面阻抗 ≠ 靜電遮蔽
3. 尺寸
依袋型確認:
- Width
- Length
- Gusset
- Flap
- Seal Width
- Zip位置
- 印刷位置
- 開口方向
IC Tray尤其不能只量Tray長×寬,還應考慮:堆疊高度+裝袋餘量+封口區
4. 厚度
塑膠膜厚度可參考ISO 4593,目前1993版於2025年再次確認仍有效
IQC最好進行多點測量,而不是只量袋體中央一點
因為真正要確認的是:平均厚度+厚度一致
5. 封口強度
ASTM F88/F88M-23目前為阻隔性軟包裝材封口強度的有效版本,可用來量測將Seal分開所需要的力量
但:封得很牢,不代表一定不漏
所以高要求MBB、真空袋還需另外評估包裝完整性
6. 包裝完整性
檢查:
- 通道洩漏
- 針孔
- 封口皺褶
- 封口污染
- 刺穿
- 破洞
- 分層
尤其MBB即使材料WVTR很好,只要封口出現微小通道,Dry Pack性能仍可能失效
7. 外觀
建議確認:
- 黑點
- Gel
- Fish Eye
- 異物
- 金屬層刮傷
- 分層
- 結塊
- 皺摺
- 印刷異常
對銀色防靜電袋與MBB而言,外觀異常有時不只是美觀問題,而可能涉及功能層損傷
8. Particle與潔淨污染
ISO 14644-1:2015規範的是Cleanroom空氣Particle濃度分類,不是塑膠袋本身的Particle允收標準
因此:
「在ISO Class 6生產」
不能直接等於:
「袋子Particle一定合格」
半導體無塵袋還可能依客戶要求測:
- Particle
- Ionic Contamination
- FTIR
- NVR
- Silicone
- Amide
- 其他添加物
9. 防潮/阻隔性能
MBB主要應關注:
WVTR,Water Vapor Transmission Rate
如果產品另有阻氧要求,再確認:
OTR
袋子厚度不能直接代表防潮性能
10. COA與批次可追溯性
一份完整COA至少應有:
- Product Name
- Specification
- Lot No.
- Test Item
- Test Method
- Unit
- Specification Limit
- Actual Result
- Test Date
高要求產品還可以加入:溫度、相對濕度、設備、樣品編號、報告編號
實際應用
IC/晶片金屬屏蔽袋
優先確認:
ESD+屏蔽+尺寸+厚度+封條 + 批號報告
PE無塵袋
優先確認:
Particle+Ion+FTIR/添加物+尺寸+厚度+外觀
MBB防潮袋
優先確認:
ESD+WVTR+Seal+包裝完整性+尺寸+COA
採購/工程/IQC注意事項
採購規格不要寫成:
抗靜電10⁹、厚度0.1、無塵、封口良好
應改成:
檢驗項目 + 單位 + 測試方法 + 合格標準
例如:
表面電阻|Ω|ANSI/ESD STM11.11|依客戶Spec
這樣供應商與IQC才能使用同一個標準判定
格森塑膠實務經驗
格森在半導體包材詢價中,常收到:
「抗靜電10⁶~10⁹、厚度0.1、無塵」
但真正需要再確認的是:
- 電阻還是電阻率?
- 內層還是外層?
- 要不要靜電屏蔽?
- 0.1 mm是總厚還是單層?
- 無塵是環境還是成品Particle?
- 是否有WVTR要求?
因此格森建議把半導體包材規格拆成:
六大類再進行驗收
檢驗資料/技術來源
- ANSI/ESD S541-2026:ESDS包裝性能
- ANSI/ESD STM11.11-2022:表面電阻
- ANSI/ESD STM11.31-2018:靜電屏蔽袋
- IEC 61340-5-3:2022:ESD Packaging分類與20 nJ Shielding要求
- ISO 4593:塑膠薄膜厚度
- ASTM F88/F88M-23:軟包裝封口強度
- ISO 14644-1:2015:無塵室空氣微粒潔淨度等級
常見問題Q&A:半導體包材IQC
Q1:所有半導體包材都要驗10項嗎?
不需要,應依產品功能與客戶Spec決定必驗、定期驗及型式試驗項目
Q2:表面電阻合格就等於靜電屏蔽合格嗎?
不是,屏蔽需要另外進行放電屏蔽性能測試
Q3:無塵袋ISO Class 6代表袋子Particle合格嗎?
不是,ISO Class描述Cleanroom空氣潔淨度
Q4:厚度越厚品質越好嗎?
不一定,還需看厚度均勻度、材料結構與產品用途
Q5:封口強度越大越好嗎?
不一定,除了強度,還應確認Seal一致性與Leak
Q6:MBB只要WVTR低就可以嗎?
不夠,還需確認Seal、ESD及Dry Pack使用條件
Q7:COA可以取代IQC嗎?
不建議,COA是供應商資料,進貨檢驗仍應依企業風險管理制度執行
Q8:RoHS報告可以證明ESD嗎?
不能,RoHS與ESD是完全不同的性能
Q9:第三方報告可以一直沿用嗎?
應確認測試樣品、日期、材料版本與實際交貨產品是否一致
Q10:格森可以依客戶IQC規格協助選料嗎?
可依內容物、尺寸、ESD、Cleanroom、防潮與客戶Spec協助評估適合包材方向
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